Ing. Ján Hurtuk, PhD.
Ing. Ján Hurtuk, PhD.
člen odborného kolektívu
Kontaktné údaje
Odborný asistent a vedecko-výskumný pracovník na Katedre počítačov a informatiky a dekanátnom pracovisku Počítačového centra FEI TUKE. Viac ako 10 rokov pôsobí v oblasti výskumu a pedagogiky v odbore Informatika, dlhodobo vyučuje predmety zamerané na paralelné počítačové systémy a je pravidelným vedúcim bakalárskych a diplomových prác zameraných na rozoznávanie škodlivých vzoriek kódu v oblasti kyberbezpečnosti. Je spoluautorom viac ako 40 odborných publikácií.
Vybrané publikácie
MLMD-A Malware-Detecting Antivirus Tool Based on the XGBoost Machine Learning Algorithm / Jakub Palša ... [et al.] Spôsob prístupu: https://doi.org/10.3390/app12136672... - 2022. In: Applied sciences. - Bazilej (Švajčiarsko) : Multidisciplinary Digital Publishing Institute Roč. 12, č. 13 (2022), s. [1-24] [online]. - ISSN 2076-3417 (online)
Using Machine Learning Algorithms to Detect Malware by Applying Static and Dynamic Analysis Methods / Jakub Palša ... [et al.] Spôsob prístupu: http://acta.uni-obuda.hu/Palsa_Hurtuk_Chovanec_Chovancova_125.pdf... - 2022. In: Acta Polytechnica Hungarica : An international peer-reviewed scientific journal of Óbuda University, Hungarian Academy of Engineering and IEEE Hungary Section : journal of applied sciences. - Budapešt (Maďarsko) : Óbudai Egyetem Roč. 19, č. 7 (2022), s. 177-196 [print, online]. - ISSN 1785-8860
Highly Interactive Hybrid Honeypot / Eva Chovancová, Ján Hurtuk - 2019. In: Applied Computational Intelligence and Informatics. - Timişoara (Rumunsko) : Universitatea Politehnica Timisoara s. 33-37 [online]. - ISBN 978-1-7281-0685-4
Information Hiding Into OBJ Format File Using Vector Steganography Techniques / Branislav Madoš ... [et al.] - 2018. In: SACI 2018. - Danvers : IEEE, 2018 P. 91-95. - ISBN 978-1-5386-4639-7
Case Study of Ransomware Malware Hiding Using Obfuscation Methods / Ján Hurtuk ... [et al.] - 2018. In: ICETA 2018 : 16th IEEE International Conference on Emerging eLearning Technologies and Applications : proceedings. - New Jersey (USA) : Institute of Electrical and Electronics Engineers s. 215-220 [print, online]. - ISBN 978-1-5386-7912-8